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美国麦克仪器公司将在中国石油大学举办技术讲座

2018-11-23 15:57:02

比表面和孔隙度是确定材料质量和用途的两个重要物理性质,需要严格控制才能实现材料的特殊功能。即使对于相同粒度的粉体材料,也会由于材料内部颗粒比表面和孔隙度的差异,极大的影响材料的性能特点。粒度与稳定性是决定胶体性质的两个参数,胶体的稳定性又与Zeta电位密切相关,在研究生产过程中,我们需要测定Zeta电位来确定胶体的分散情况从而确定产品的性能。作为材料表征权威公司,我们一直致力于研发材料表征的方法与技术,为广大用户提供更精确、更广泛应用的测试技术。为了和大家分享我们的研究成果,美国麦克仪器公司准备在9月20号在中国石油大学举办题为“粉体与纳米颗粒表面表征的进展”的技术讲座,我们诚邀您前来共同探讨、交流本行业的国际发展趋势。

研讨会时间:9月20号

地点:石油大学逸夫实验楼

地址:青岛市经济技术开发区

主讲人:麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司总经理许人良博士

技术讲座基本内容:

粉体与纳米颗粒表面表征的进展

1)粉体表面与孔径分布表征进展

气体吸附技术现状

硬件进展

测量微孔化,高压化,高通量化

数据处理

DFT趋向更广泛应用,H2DNLDFT

2)动态空隙体积法测炭黑特性

3)胶体、纳米颗粒的粒径与Zeta电位测量

动态光散射普及化

Zeta电位应用在浓悬浮液,纳米颗粒

许人良博士简介:

许人良博士现任麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司总经理。从事颗粒特性研究和检测技术30多年,是该领域国际专家。他于1987年和1988年在美国the State University of New York at Stony Brook获得硕士和博士学位。2002年获得美国Nova Southeastern University的MBA学位。

他发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇;获得2项美国专利;研究成果在科学检索引用超过1500多次;在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次;并著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。现在担任5个专业期刊(Macromolecules, Langmuir, J. Coll. Inter. Sci.,等期刊)的评委;ISO, ASTM, IAB of PERC的委员会成员;多项国际标准的起草者;被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域,在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学兼职教授,上海师范大学兼职教授,沈阳科学技术学会特邀外国专家。他是美国化学学会(ACS)会员、美国物理学会(APS)会员、美国化学工程师学会(AIChE)会员、美国检测和材料学会(ASTM)会员,中国颗粒学会会员,国际粉体检测与控制联合会会员。

他曾获得的荣誉和奖励有:美国荣誉协会Sigma Beta Delta奖;A Certificate of Appreciation by Mayor of Metropolitan Dade County, FL;The Postdoctoral Fellowship awarded by National Science Engineering Research Council of Canada;A Certificate for the Sherwin-Williams Award by American Chemical Society;The World Bank Fellowship by the United Nation等。

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